高效地测试全天候运行的无源光器件。以非常高的动态范围、速度与分辨率测量插损
（滨尝）、回损（搁尝）或偏振相关损耗（笔顿尝）
迅速对滨尝、搁尝或笔顿尝进行波长扫描测量
采用*电子技术，只需一次扫描便可以实现整个动态范围内的滨尝鉴定，是测试频谱对比度高的器件的理想工具
配备强大、直观的图形用户界面（骋鲍滨），便于配置测试和分析测量结果
支持全波段IL、RL和PDL测量，覆盖从1240 nm到1680 nm的波长
提供激光器共享功能，在多8个测试台间共享一个或多个激光器
CTP10是一种模块化测量平台，可高效地测试全天候运行的无源器件。该平台可直接控制一台或多台T100S-HP激光器，在几秒内实现高分辨率频谱鉴定。一台CTP10可为IL、RL或PDL测量提供波长扫描、数据收集与处理、以及曲线显示与分析功能，从而成为一款非常诱人、易于使用的无源器件测试解决方案。它能够以高达80 dB的动态范围、非常高的速度与分辨率，通过一次扫描便完成插损测量。该平台可连接多达50个检测器，成为测试DWDM网中所用大端口数器件以及光子集成电（PIC）
的理想仪表。它运行功能强大的数据处理电子技术，从而几乎消除了由数据传输而导致的任何停机时间。它还配备一个大容量内置硬盘，用于直接存储数据和通过兼容厂颁笔滨的命令进行全远程控制。
